LE PHENOMENE TUEUR
PRESENTATION
50 ans de recherches sont exposés en résumé sur le site de la NASA : Basic info of Tin Whiskers
De spectaculaires photos sont exposées ici.
De 1940 à 2006, TW a causé des dommages dans de nombreux domaines: militaire, civil , aérospatial, nucléaire, gps etc.... On peut voir l'ampleur des dégâts sur trois tableaux de cette page
Il existe de nombreux exemples réels d'accidents causés par TW dans l'industrie de l'électronique. Par exemple, en 2006, la NASA a signalé que des TW ont causé des courts-circuits dans des équipements spatiaux, entraînant une perte de fonctionnalité et une réduction de la durée de vie de l'équipement. En 2008, des TW ont été impliqués dans un incident qui a causé une interruption de service pour un réseau de télécommunications. En 2011, des TW ont été identifiés comme la cause d'une panne de système dans une installation militaire.
Ces exemples montrent l'importance de la prévention et de la gestion des TW pour assurer la fiabilité des systèmes électroniques. Les fabricants utilisent des méthodes telles que le choix de matériaux de placage alternatifs et la mise en œuvre de revêtements résistants pour minimiser la formation de TW et éviter les accidents associés.
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